Высокоускоренное стресс-тестирование (HAST) — это высокоэффективный метод тестирования, разработанный для оценки надежности и срока службы электронных продуктов. Метод имитирует нагрузки, которые электронные продукты могут испытывать в течение длительного периода времени, подвергая их экстремальным условиям окружающей среды, таким как высокие температуры, высокая влажность и высокое давление, в течение очень короткого периода времени. Такое тестирование не только ускоряет обнаружение возможных дефектов и слабых мест, но и помогает выявлять и устранять потенциальные проблемы до поставки продукта, тем самым улучшая общее качество продукта и удовлетворенность пользователей.
Объекты испытаний: микросхемы, материнские платы, мобильные телефоны и планшеты, подвергающиеся воздействию сильно ускоренной нагрузки для стимуляции проблем.
1. Использование импортной термостойкой двухканальной конструкции электромагнитного клапана позволяет максимально снизить частоту отказов.
2. Отдельное помещение для генерации пара, позволяющее избежать прямого воздействия пара на продукт, чтобы не вызвать локального повреждения продукта.
3. Конструкция дверного замка, экономящая ресурсы, позволяет устранить сложные недостатки первого поколения запирающих ручек дискового типа.
4. Выпуск холодного воздуха перед испытанием; испытание в конструкции выпуска холодного воздуха (выпуск воздуха из испытательного ствола) для улучшения стабильности давления, воспроизводимости.
5. Сверхдлительное время экспериментальной работы, длительная работа экспериментальной машины 999 часов.
6. Защита уровня воды, посредством защиты обнаружения датчика уровня воды в испытательной камере.
7. Водоснабжение: автоматическое водоснабжение, оборудование поставляется с резервуаром для воды и не подвергается воздействию внешних факторов, что гарантирует отсутствие загрязнения источника воды.
